Impulsa tu Análisis Científico con las Soluciones Avanzadas de TESCAN

TESCAN es líder en tecnología de microscopía electrónica y análisis de materiales, ofreciendo soluciones de vanguardia para investigaciones en ciencia de materiales, biología y geociencias. Como representantes en Latinoamérica, te brindamos acceso a equipos innovadores, como microscopios de barrido electrónico (SEM) y de emisión de campo (FIB-SEM), diseñados para elevar la precisión y el detalle en tus investigaciones. Optimiza tu laboratorio y lleva el análisis de materiales al siguiente nivel con TESCAN.

Productos

SEM (Microscopía Electrónica de Barrido)

FEB-SEM (Microscopía Electrónica de Barrido con Foco Iónico)

4D-STEM (Microscopía de Transmisión Electrónica 4D)

SEM (Microscopía Electrónica de Barrido)
La microscopía electrónica de barrido (SEM) de Tescan ofrece resolución y precisión excepcionales para la caracterización de superficies a nivel nanométrico. Es ideal para estudios en materiales, geología y biología, proporcionando imágenes detalladas y análisis morfológicos avanzados.

FEB-SEM (Microscopía Electrónica de Barrido con Foco Iónico)
La tecnología FEB-SEM de Tescan permite una precisión extrema para la caracterización y análisis estructural de materiales. Ideal para aplicaciones en nanoestructuras, electrónica y ciencia de materiales, ofrece una visión sin igual del micro y nanomundo.

FEB-SEM (Microscopía Electrónica de Barrido con Foco Iónico)
La tecnología FEB-SEM de Tescan permite una precisión extrema para la caracterización y análisis estructural de materiales. Ideal para aplicaciones en nanoestructuras, electrónica y ciencia de materiales, ofrece una visión sin igual del micro y nanomundo.

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