La medición rápida y precisa de la orientación del cristal nunca ha sido tan accesible: conozca el SDCOM, su XRD compacto fácil de usar. El método de escaneo azimutal libera una medición ultrarrápida, con resultados en menos de diez segundos.
El Crystal Orientation SDCOM es la solución ideal para muchas aplicaciones dentro del procesamiento y la investigación de obleas, en las que entrega el nivel de precisión más alto de hasta 0,01o.
- Mediciones ultrarrápidas: todos los parámetros deseados de orientación cristalina se capturan en una única rotación de la muestra, es decir, en tan solo 10 segundos.
- Variedad de tamaños de muestra: mide muestras desde 1 mm de diámetro hasta 200 mm de diámetro.
- Análisis y determinación de orientación totalmente automatizados: adecuado para cualquier material monocristalino.
- Desviación estándar típica (Si 100): magnitud de inclinación < 0,01°, dirección de inclinación < 0,03°.
- Tiempo de actividad: > 99%.
- Capacidad de escaneo theta: ideal para investigaciones avanzadas y caracterización de materiales.
- Tecnología de transferencia: permite orientar hasta 6 cristales en un solo haz de corte.
- Listo para integración con sistemas MES como SECS/GEM.
- Algunos ejemplos de materiales medibles incluyen los siguientes (método de escaneo azimutal):
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- Cúbico, orientación desconocida arbitraria: Si, Ge, GaAs, GaP, InP
- Cúbico, orientación especial: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
- Tetragonal: MgF2, TiO2, SrLaAlO4
- Hexagonal y trigonal: SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2 (cuarzo), Al2O3 (zafiro), GaPO4, La3Ga5SiO14
- Ortorrómbico: Mg2SiO4, NdGaO3
- Cualquier otro material cristalino individual
